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天瑞thic800a上照式鼠標定位X射線熒光測厚儀的簡單介紹上照式x射線熒光測厚儀是天瑞儀器的核心產品，對5層以內的金屬鍍層進行厚度分析，通過鼠標點擊樣品位置實現自動測試功能天瑞thic800a上照式鼠標定位X射線熒光測厚儀的詳細信息天瑞thic800a上照式鼠標定位X射線熒光測厚儀是檢測5層以內，50微米以內的金屬厚度。 開放式樣品腔。 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。 雙激光定位裝置。 鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測器。 信號檢測電子電路。 高低壓電源。 X光管。 高度傳感器 保護傳感器 計算機及噴墨打印機  黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測. 金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。 主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。  元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。 分析含量一般為ppm到99.9% 。 鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同） 任意多個可選擇的分析和識別模型。 相互獨立的基體效應校正模型。 多變量非線性回收程序 度適應范圍為15℃至30℃。 電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。 外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm 重量：90kg |
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