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  產地:昆山中(zhong)華園西路1888號

 規格:SDD大面積探(tan)測器(qi),自旋測試(shi)

  公司所(suo)在地:江蘇蘇州

電(dian)話:13814856624

江蘇天瑞儀器股份有限公司

  • 聯系人:孫經理
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    工商注冊信息:已通過閥門網認證
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    地 址:昆山市中華園西路1888號
詳細信息

x射線熒光礦石分析儀的簡單介紹

X射線熒光礦石分析儀應用于各類地質中,檢測樣品包括礦渣、巖石、泥土、泥漿,可以根據客戶要求針對特殊元素進行定制。樣品形態可以為固體、液體、粉末等。

x射線熒光礦石分析儀的詳細信息

X射(she)線(xian)熒(ying)(ying)光礦(kuang)(kuang)石(shi)(shi)分析儀EDX3600K屬于江蘇天瑞儀器股份有限(xian)公司自主(zhu)(zhu)研發的產品,設(she)備采用(yong)了能量(liang)(liang)色(se)散X射(she)線(xian)熒(ying)(ying)光光譜技術實現礦(kuang)(kuang)石(shi)(shi)中主(zhu)(zhu)、微(wei)量(liang)(liang)元(yuan)素(su)(su)的快速檢測,設(she)備采用(yong)了先進的SDD探(tan)測器和(he)(he)高功(gong)率X射(she)線(xian)激(ji)發源等硬件配置。EDX3600K X熒(ying)(ying)光光譜儀,能夠快速、準確地(di)(di)(di)分析各類地(di)(di)(di)質礦(kuang)(kuang)樣中元(yuan)素(su)(su);K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Ga、Rb、Y、Ba、Sr、Br、Th、Zr、Cd、Hg等元(yuan)素(su)(su)的檢出限(xian)和(he)(he)定(ding)量(liang)(liang)限(xian)完全滿足地(di)(di)(di)質礦(kuang)(kuang)樣標準要求。
測(ce)量元(yuan)素范圍(wei):從硫(S)到(dao)鈾(you)(U)
元素含量分析(xi)范圍: ppm—99.99%(不(bu)(bu)同元素,分析(xi)范圍不(bu)(bu)同)
同(tong)時分析元素:一次性可(ke)測30種以上元素
測量時(shi)間(jian):60秒-300秒
探測器(qi)能量分(fen)辨率為:最低(di)可達125eV
管壓(ya):5KV-55KV
管流:50μA-1000μA
測量(liang)對(dui)象狀態:粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環境溫度:15℃-30℃
環境濕(shi)度(du):35%-70%

儀器安全性

1、具備儀(yi)器自動(dong)保護功能,防止儀(yi)器誤操作導(dao)致(zhi)輻射泄漏(lou)及儀(yi)器損壞。

2、設備安全保護鎖,特殊情況下通過安全保護鎖保證操作人員安全。

3、三維迷宮式設計,防止輻射泄漏。

4、X射線管全包圍式設計,提高儀器安全性能。

5、射線防護優于國標《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準GBZ115-2002》。


X射線(xian)熒(ying)光礦石分析(xi)儀在地礦行業應用優勢,探(tan)礦、找礦以及各類地質礦樣多元素(su)檢測和分(fen)析(xi)(xi)、礦渣(zha)精煉分(fen)析(xi)(xi)中充分(fen)發揮(hui)作(zuo)(zuo)用(yong),使探(tan)礦工作(zuo)(zuo)更為簡單(dan)、輕松。對原礦、精礦、尾礦、燒結礦、球團礦、爐渣、生鐵(tie)、石(shi)(shi)灰(hui)石(shi)(shi)等(deng)具有較強的分析優勢(shi)。
檢測元素(su):標準配(pei)置可(ke)檢測30多種元素(su),同(tong)時可(ke)按客戶需求增(zeng)加檢測元素(su)
專業性(xing):礦石(shi)專用版分(fen)析軟件,采用智能一(yi)鍵測試
個性化定制工作模式(shi)
多種礦(kuang)樣模(mo)(mo)式(shi)選(xuan)擇和無限數目模(mo)(mo)式(shi)的自(zi)由添加,根據客戶需求定制工作模(mo)(mo)式(shi)。

抽真空測(ce)量,可以(yi)更大(da)限度的提高測(ce)量元素的檢測(ce)限,有利于金屬測(ce)量以(yi)及其他輕元素測(ce)量;

先進的模塊化設(she)計理(li)念,保證了儀(yi)器后續的高(gao)擴展性;
采用低功率X光管(guan)端窗前直徑更(geng)大,對樣品具(ju)有更(geng)好的激發(fa)效率;
更先進的(de)(de) Superfast SDD 電制冷半導體(ti)探(tan)測器,分(fen)辨(bian)率和(he)計(ji)數率更高(gao),有利于要(yao)求更高(gao)或(huo)更復(fu)雜的(de)(de)樣品分(fen)析。

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